本申请公开了一种量产测试方法、系统和存储介质,以实现在量产测试时做到测试数据质量高、良率损失低且测试时间短三者兼顾。该方法包括:获取同一型号不同批次的
芯片的实测参数;基于所述实测参数,分别对各批次进行失效率和良率的联合卡控;对经所述联合卡控筛选出的问题批次进行部件平均测试;根据联合卡控结果和部件平均测试结果输出本次量产测试结果。
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我是此专利(论文)的发明人(作者)