本发明提出一种利用调制激光进行强背景干扰下颗粒速度测量的装置,包括,激光光强调制系统,用于根据调制频率将激光调制成强度变化的激光;数据采集处理系统,用于采集强度变化的激光照射颗粒时,颗粒对激光的散射信号,并对散射信号进行以所述调制频率为中心的带通滤波,根据带通滤波后的散射信号得到颗粒的速度。本发明提出的适合强背景干扰下颗粒速度测量的装置,可以解决颗粒速度测量过程中强背景噪音导致颗粒速度测量失效的问题。
声明:
“利用调制激光进行强背景干扰下颗粒速度测量的装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)