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防倾斜的集成电路FT测试装置

731   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:22
本实用新型涉及一种防倾斜的集成电路FT测试装置,包含散热座、下压板、测试部件和弹簧;测试部件的下部为测试头,测试部件的上部为导向柱,下压板具有与测试部件配合的限位结构,散热座中具有伸缩空间,测试部件的测试头伸出至下压板的下侧,导向柱进入散热座的伸缩空间;散热座的伸缩空间的顶部具有容纳槽,导向柱的上端与容纳槽配合,散热座的伸缩空间的顶部设置有导向环;弹簧套设在导向柱上,弹簧的上端嵌入导向环中;本方案优化了测试装置的结构,使弹簧上端在导向环的作用下固定,保证pusher和测试插槽位置接触良好,可以有效避免由于接触不好导致的芯片测试失效,避免造成资源浪费,并提高芯片良品率。
声明:
“防倾斜的集成电路FT测试装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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