本发明实施例提供了一种测试存储器的方法和装置,存储器包括自测试控制器,方法包括:将存储器与第一测试设备连接,通过第一测试设备发送启动自测试指令至存储器;通过自测试控制器确定存储器的各待测试功能,并根据各待测试功能对存储器进行循环测试,直至循环次数等于预设最大测试次数;将存储器与第二测试设备连接,通过第二测试设备对存储器进行全功能测试,并当任一功能测试失败时,判断存储器失效。本发明实施例不仅简化了老化测试流程,提高了老化测试的便利性和批量生产存储器时的产出效率,还大幅降低了老化测试对测试设备的要求,进而降低了产品老化测试成本。
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