本发明涉及
芯片测试电路设计领域。公开了一种提高模拟滤波电路(104)测试效率的方法。本方法可以改进现有对模拟滤波电路(104)串行、单个测试方法的不足,提出了一种能够同时对多个模拟滤波电路(104)进行测试的方法。该方法通过ATE(101)控制配置寄存器(102)开启模拟滤波电路(104);通过控制电路(103)控制测试寄存器(105)的复位;通过配置寄存器(102)对测试寄存器(105)的输出结果通过与或选择器(106)进行选择。ATE(101)通过观测输出的结果判断模拟滤波电路(104)是否失效。同时,通过配置寄存器(102)开启部分模拟滤波电路(104),可以使用二分法快速定位失效的模拟滤波电路(104),进而提高测试效率。
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