本发明公开了一种集成电路自动控制测试方法,为一种机械结构和算法的结合,首先需要对handler内部进行结构的改造,增加失效复测区(E)和一移动机械臂(F),将需要复测的BIN放置由原来位置移动到失效复测区域,在完成第一次测试后,将失效复测区域的
芯片通过机械臂又放置在待测区域,从而实现自动复测的目的,减少人工重新放置和测试机停机的时间。
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