合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 集成电路自动控制测试方法

集成电路自动控制测试方法

1129   编辑:管理员   来源:中冶有色网  
2023-03-19 09:00:19
本发明公开了一种集成电路自动控制测试方法,为一种机械结构和算法的结合,首先需要对handler内部进行结构的改造,增加失效复测区(E)和一移动机械臂(F),将需要复测的BIN放置由原来位置移动到失效复测区域,在完成第一次测试后,将失效复测区域的芯片通过机械臂又放置在待测区域,从而实现自动复测的目的,减少人工重新放置和测试机停机的时间。
登录解锁全文
声明:
“集成电路自动控制测试方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
         
咨询细节
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

2025年10月15日 ~ 17日
2025年10月17日 ~ 19日
2025年10月31日 ~ 11月02日
2025年11月07日 ~ 09日

报告下载

赤泥综合利用研究报告2025
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记