本发明提供了一种非挥发性存储器的自测试方法和装置,非挥发性存储器包括自测试控制器,非挥发性存储器与测试设备相连,方法包括:通过非挥发性存储器接收测试设备发送的启动自测试指令;启动自测试控制器,确定最大测试次数和非挥发性存储器的各待测试项目;通过自测试控制器根据各待测试项目对非挥发性存储器进行测试,直至对各待测试项目的测试次数等于最大测试次数,或直至任一待测试项目的测试结果为非挥发性存储器失效;若任一待测试项目的测试结果为非挥发性存储器失效,则通过自测试控制器记录对应的项目失效信息至非挥发性存储器的第一预设存储空间。本发明使得老化测试简单方便,大幅降低了老化测试对测试设备的要求,测试成本更低。
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