合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 电子产品的温压双应力小样本加速试验寿命预测方法

电子产品的温压双应力小样本加速试验寿命预测方法

801   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:19
本发明提供一种电子产品的温压双应力小样本加速试验寿命预测方法,其包括以下步骤:1、获取失效数据并进行排序,确定失效数据所满足的指数分布;2、计算并重新整理每个应力水平下的等效指数失效时间数据并进行排序;3、列出选定的信度水平并计算分位值;4、获得选定信度水平下的应力‑失效时间函数;5、获得选定应力水平下的对数失效时间分位值;6、得到参数的最小二乘估计值,确定选定应力水平下的失效时间分布。本发明基于不确定理论通过矩模型实现指数分布参数估计,获取等效指数失效时间数据,通过扩大样本数量实现指数分布参数的修正,提高了小样本条件下失效时间预测的精确性与收敛度。
声明:
“电子产品的温压双应力小样本加速试验寿命预测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

2024退役新能源器件循环利用技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记