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电子产品的温压双应力小样本加速试验寿命预测方法

816   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:19
本发明提供一种电子产品的温压双应力小样本加速试验寿命预测方法,其包括以下步骤:1、获取失效数据并进行排序,确定失效数据所满足的指数分布;2、计算并重新整理每个应力水平下的等效指数失效时间数据并进行排序;3、列出选定的信度水平并计算分位值;4、获得选定信度水平下的应力‑失效时间函数;5、获得选定应力水平下的对数失效时间分位值;6、得到参数的最小二乘估计值,确定选定应力水平下的失效时间分布。本发明基于不确定理论通过矩模型实现指数分布参数估计,获取等效指数失效时间数据,通过扩大样本数量实现指数分布参数的修正,提高了小样本条件下失效时间预测的精确性与收敛度。
声明:
“电子产品的温压双应力小样本加速试验寿命预测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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