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基于ATE的FPGA配置芯片的测试方法

985   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:17
本发明提供一种基于ATE的FPGA配置芯片的测试方法,其特征在于,包括:设定器件工作电源、输入电平、输出电平、参考电平、负载电流的值,设定器件的上电次序,设定器件的地址信号、控制信号和数据信号的数据格式、时序、通道和控制寄存器的分配,分别进行全芯片的擦除与验证、单个扇区的擦除与验证、写状态寄存器验证、读芯片ID验证、全芯片存储单元的读写功能验证、写保护验证、直流参数验证以及交流参数验证。本发明提出的基于ATE的FPGA配置芯片的测试方法,基于T5385ES超大规模集成电路存储器测试系统,针对EPCS16SI8N编写专用的测试图形,完成对EPCS16SI8N的测试,检测其可能存在的失效模式。
声明:
“基于ATE的FPGA配置芯片的测试方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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