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测试结构

927   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:17
本申请提供了一种测试结构,该测试结构不包括开关,该测试结构包括:待测试结构,包括多个依次串联的待测试器件组,各待测试器件组包括多个并联的待测试的阻变器件;两个测试电极,分别为第一测试电极和第二测试电极,第一测试电极与待测试结构的一端电连接,第二测试电极与待测试结构的另一端电连接,从而同时检查多个待测试的阻变器件,提高了测试效率,并且测试结构不包括开关,降低了测试成本,并且一个待测试的阻变器件失效会导致待测试结构的阻值大幅降低,使得测试结构对机台精度要求低,进而解决了现有技术中的测试MTJ的方法难以同时达到测试效率高、测试成本较低且对机台精度要求低的问题。
声明:
“测试结构” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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