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测试SRAM的方法、装置、计算机设备及存储介质

633   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:17
本发明涉及测试SRAM的方法、装置、计算机设备及存储介质;其中,方法,包括:对待测试的内存进行标识,生成测试数据;对待测试的内存进行读操作,获取读数据;将测试数据与读数据进行比较测试,获取比较测试结果,并输出比较测试结果至待测试的内存。本发明支持在运行真实应用场景的时候,同时测试相关的SRAM,用于支持检测一些极端环境引发的问题,能够迅速排查是否是SRAM失效引起的,也可以用于工艺角在实际应用场景中可能带来的问题,能够使mbist测试更健壮,实际使用灵活,能够更好地满足需求。
声明:
“测试SRAM的方法、装置、计算机设备及存储介质” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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