一种扫描电镜中单根纳米线原位力学综合性能测试装置及方法,属于
纳米材料性能原位检测领域。该发明通过设计粗调位移平台、压电陶瓷拉伸单元和微悬臂梁力学检测系统,实现对纳米线的弹性,塑性和断裂过程的力学性能定量测量,也可以对纳米线进行电学性能测量。利用扫描电子显微镜成像系统原位实时记录纳米线在力场和电场作用下弹塑性变形过程、断裂失效的方式以及电荷传输特性,将纳米线的力学性能,电学性能,力学和电学耦合性能以及微观结构变化直接对应起来,从纳米尺度上揭示一维纳米线的综合性能。本发明结构简单,便于操作,应用范围广,具有直观性和定量检测的特性,便于解释和发现纳米材料优异的力学等综合性能。
声明:
“扫描电镜中单根纳米线原位力学综合性能测试装置及方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)