合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 多通道显微镜半导体综合测试系统

多通道显微镜半导体综合测试系统

832   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:17
本发明提出一种多通道显微镜半导体综合测试系统,是将红外发光显微技术(EMMI)、激光束诱导电阻率变化测试技术(OBIRCH)、微探针检测技术、扫描电子显微镜技术(SEM)结合在一起形成一种多通道显微镜半导体综合测试系统。利用OBIRCH方法,可以有效地对电路中缺陷定位,如线条中的空洞、通孔下的空洞、通孔底部高阻区等;也能有效的检测短路或漏电,是发光显微技术的有力补充;微探针检测技术是以微探针快捷方便地获取IC内部电参数值,如工作点电压、电流、伏安特性曲线等。本系统可进行多种失效测试技术,减少测试设备,测试步骤少,操作简单、方便。
声明:
“多通道显微镜半导体综合测试系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

2024退役新能源器件循环利用技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记