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继承性大变形光纤测试结构

1022   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:16
本实用新型提供了一种继承性大变形光纤测试结构,包括:多根测试光纤,每根测试光纤外接测试设备;设置两个固结区将测试光纤直接固定在检测对象上,或者先固定在测试光线载体上,测试光线载体再固定在检测对象上;所有测试光纤在检测区域内长度不同Li≤Li‑1(1+δ),δ作为光纤有效测试应变量。测试原理为:第i根测试光纤Gi即将失效时,第i+1根测试光纤Gi+1进入有效测试状态,大变形由继承方式获得。本实用新型结构简单,稳定性好,检测精度高,结构成本及其实施成本低,实施过程简单,有极大的应用前景。
声明:
“继承性大变形光纤测试结构” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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