本申请公开了一种监测IGBT器件工作状态的系统和方法,包括以下步骤:步骤S1:选择多个集电极电流Ic,以一定的采样周期检测IGBT器件的饱和导通压降Vce;步骤S2:建立不同集电极电流Ic条件下,饱和导通压降Vce和结温的对应关系曲线;根据饱和导通压降Vce和结温的对应关系曲线获得对应的结温T,将结温T与预警结温T0比较,判断GBT是否失效;步骤S3:计算相邻采样周期t之间的结温波动ΔT,根据结温波动ΔT的范围提高或降低开关频率,并再次测量饱和导通压降Vce,获得新的结温T;步骤S4:重复判断结温波动情况,当结温波动ΔT稳定于波动的阈值范围时,判断IGBT的失效情况。本发明可以解决现有技术中提出的IGBT器件工作状态监测分辨率和精确度低的问题。
声明:
“监测IGBT器件工作状态的系统和方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)