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基于芯片电磁兼容测试的复位方法、装置及系统

655   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:16
本发明公开了一种基于芯片电磁兼容测试的复位方法、装置及系统,该方法包括:当完成电磁兼容测试,被测芯片失效时,进行初始化配置;在完成初始化配置后,检测是否接收到上位机的复位控制指令;当接收到上位机的复位控制指令时,根据所述复位控制指令,获取被测芯片复位所需的复位通道、复位持续时间和复位电压值;根据所述复位通道、所述复位持续时间和所述复位电压值,向被测芯片输出复位控制信号。采用本发明实施例,通过判断并接收上位机的复位控制指令,实现对被测芯片对应的复位通道,按复位持续时间和复位电压值输出复位控制信号,以使被测芯片满足复位条件,实现针对需要通过控制引脚恢复的失效芯片的自动复位。
声明:
“基于芯片电磁兼容测试的复位方法、装置及系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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