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嵌入式OTP的8位MCU芯片的测试方法

773   编辑:管理员   来源:中冶有色网  
2023-03-19 09:00:16
本发明提供了一种嵌入式OTP的8位MCU芯片的测试方法,属于晶圆检测技术领域。本嵌入式OTP的8位MCU芯片的测试方法,其特征在于,包括以下步骤:1、利用紫外线UV箱对含有嵌入式OTP的8位MCU芯片的晶圆做UV擦除,扫除OTP存储单元的残留电子;2、利用晶圆测试机提供的高压管脚,将OTP存储单元以插花方式写入“0”数据,这样可以检测是否存在disturb和diag失效模型;3、利用晶圆测试机提供的高压管脚,将OTP剩余存储单元全部写入“0”数据,这样可以检测是否存在disturb和diag失效模型。本发明通用性好,适用所有类型的含有嵌入式OTP的8位MCU芯片的晶圆。
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