本实用新型提出了一种用于除错的金属连线测试结构,包括:多层层间金属层、介质层、金属插塞和顶层金属层,介质层隔离开多层层间金属层和顶层金属层,相邻的层间金属层之间、层间金属层和顶层金属层之间均通过金属插塞相连;顶层金属层包括相连的直线段和弯曲段,直线段位于层间金属层正上方的介质层上,弯曲段绕开层间金属层正上方的介质层,暴露出层间金属层正上方的介质层;暴露出层间金属层正上方的介质层,便于FIB避开厚度较厚的顶层金属连线,可以直接在介质层和层间金属连线处进行电路编辑,降低了FIB电路编辑的难度,从而有益于失效分析。
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