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用于除错的金属连线测试结构

988   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:14
本实用新型提出了一种用于除错的金属连线测试结构,包括:多层层间金属层、介质层、金属插塞和顶层金属层,介质层隔离开多层层间金属层和顶层金属层,相邻的层间金属层之间、层间金属层和顶层金属层之间均通过金属插塞相连;顶层金属层包括相连的直线段和弯曲段,直线段位于层间金属层正上方的介质层上,弯曲段绕开层间金属层正上方的介质层,暴露出层间金属层正上方的介质层;暴露出层间金属层正上方的介质层,便于FIB避开厚度较厚的顶层金属连线,可以直接在介质层和层间金属连线处进行电路编辑,降低了FIB电路编辑的难度,从而有益于失效分析。
声明:
“用于除错的金属连线测试结构” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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