合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 待测设备的安全测试方法、装置、电子设备及存储介质

待测设备的安全测试方法、装置、电子设备及存储介质

669   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:14
本申请涉及功能安全系统的测试技术领域,特别涉及一种待测设备的安全测试方法、装置、电子设备及存储介质,其中,方法包括:获取待测设备的测试配置数据,并根据测试配置数据提取多个故障模拟数据;将多个故障模拟数据按照预设次序发送至待测设备,并采集待测设备运行每个故障模拟数据时生成的故障运行数据;对比故障运行数据与预设的期望数据,得到对比结果,并根据对比结果生成待测设备的测试报告。由此,通过直接对待测硬件电路板进行故障注入,解决了相关技术不能进行控制器内部硬件失效测试,以及虚拟测试平台的测试准确性问题,可以对控制器硬件电路设计、控制器软件设计的功能安全有效性进行测试验证。
声明:
“待测设备的安全测试方法、装置、电子设备及存储介质” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记