本实用新型公开了一种集成电路开短路测试系统,包括电源模块、测试模块、统计模块、控制模块和显示模块;所述电源模块连接集成电路
芯片,所述测试模块的受控端连接所述控制模块,测试模块的测量端连接所述集成电路芯片,测试模块的输出端连接所述统计模块,所述统计模块连接所述显示模块。本实用新型可在显示模块上详细显示出集成电路的异常信息,开路或短路是哪个引脚,并统计该引脚开路或短路的次数,方便及时了解集成电路的不良情况并为集成电路的失效分析提供必要的依据。
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