本发明涉及一种集成电路OS测试机,包括控制单元、电源模块、测试插座、扫描测试模块、指示模块及控制按钮;测试插座用于插放IC;扫描测试模块包括电流发生电路、开关控制电路以及电压测试电路,电流发生电路用于通过测试插座对IC的管脚提供定值电流,开关控制电路用于控制IC的管脚接地,电压测试电路用于测试管脚的电压;控制按钮用于控制测试机在扫描识别模式和测试模式间切换;控制单元用于在扫描识别模式下得到良品IC的管脚分布表,及在测试模式下对待测IC进行开/短路测试并将失效信息输出给指示模块进行失效信息指示。本发明还涉及一种集成电路OS测试方法。本发明只需在开始时放上良品IC进行扫描识别,后续即可对待测IC进行连续测试。
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