本发明公开了一种基于灰色系统理论LED
芯片热振加速寿命预测方法,首先通过对LED芯片施加不同加载模式下的加速应力,采集不同加速应力下的寿命实验原始数据,然后运用灰色系统理论对实验原始数据进行灰处理,获得灰色分析数据,并构建灰色系统理论预测模型,最后对所建灰色系统理论模型进行灰色关联度分析。与现有技术相比,灰色系统预测模型不用考虑温振相互作用关系及物理失效规律相关的统计模型,可获得高效、准确的预测与评估。本发明能够通过加速应力下的原始寿命数据,通过灰色系统理论的数列预测,来预估正常工作时热和振动双应力下LED芯片的寿命,预测结果更接近工程实际,可为设计和生产高性能、高稳定性LED芯片提供科学数据理论参考依据。
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