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闪存类电子产品的寿命预测方法

684   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:11
一种闪存类电子产品的寿命预测方法包括如下步骤:(1)对产品失效模式等失效信息和产品结构、工艺等器件信息进行分析,确定潜在失效机理及其失效物理模型;(2)确定影响失效机理的环境应力;(3)确定失效物理模型中的相关参数;(4)对产品实际经历的环境应力进行监测和记录;(5)将环境应力变化区间划分成合适的小区间,并统计各个小区间内的产品经历时间;(6)利用失效物理模型分别计算不同应力水平下的预计失效前时间;(7)分别计算产品在每个应力水平下由于不同失效机理造成的寿命损伤;(8)分别计算产品由于不同失效机理造成的寿命累积损伤;(9)预测不同失效机理下的产品剩余寿命;(10)预测整个产品的剩余寿命。
声明:
“闪存类电子产品的寿命预测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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