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提高Serdes IP晶圆测试效率的方法

903   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:11
本发明公开了一种提高Serdes IP晶圆测试效率的方法,包括以下步骤:S10:对晶圆测试的MAP图进行实时读取,记录相应坐标、测试结果以及失效分类信息;S20:分析是否存在某个site测试明显比其他site失效要多,或者某个site有连续的失效,若存在,则一旦site间差异失效数或连续失效数超出预设数量时进行该项目失效报警;S30:针对区域失效的特点,设计相应的算法完成统计,通过该方法的实现可以自动快速的对测试结果进行分析,针对Serdes IP对测试硬件较敏感的特性,能够及早的发现并排除隐患,减少误测,以及对区域失效能快速的提取分析,大大减少人工数据分析的工作量,提高Serdes IP晶圆测试生产的效率。
声明:
“提高Serdes IP晶圆测试效率的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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