本发明公开了一种安全类
芯片的测试防护方法和装置,其中,该方法包括:步骤A:对外部测试设备输入的软件验证码进行验证,验证通过则在NVM中写入软件验证成功标志位;步骤B:对外部测试设备输入的硬件验证码进行验证,验证通过则检测NVM中的软件验证成功标志位是否有效,如果有效,则进入芯片测试模式。本发明的安全类芯片的测试防护方法和装置,可以兼顾量产测试、安全防护及失效分析三方面的需求,安全系数高。通过软件验证与硬件验证相结合的方式来启动测试模式,可极大增加破解难度。“软件验证码”及“硬件验证码”在芯片发行阶段写入,且不会对软件设计人员与硬件设计人员开放,能有效规避设计人员泄密的风险。
声明:
“安全类芯片的测试防护方法和装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)