合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 纳米探针测试方法

纳米探针测试方法

590   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:11
本发明提供了一种纳米探针测试方法,用于对一样品的目标截面进行检测,包括:提供所述样品;在所述样品上标记出包含所述目标截面的目标区域,沿着所述目标区域的边界切割以得到待测部分,并使所述待测部分脱离所述样品,所述目标截面为所述待测部分沿竖直方向的某一截面;切割所述待测部分的侧面以使所述目标截面暴露;旋转所述待测部分以使所述目标截面朝上,并固定在一光片上;将所述光片及所述光片上的待测部分一起转移至纳米探针台上后固定住所述光片,并利用纳米探针对所述目标截面进行测试。通过在样品中将目标截面切割出来,以便于利用纳米探针直接测试所述目标截面,得到准确的电性数据,从而便于进行精确的失效分析。
声明:
“纳米探针测试方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记