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存储器寿命测试算法

908   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:11
一种存储器寿命测试算法,存储器寿命测试程序中加入计算器单元,根据存储器数据手册设定额定寿命上限,再设定至少2倍额定寿命上限的极限寿命上限;如读写次数大于极限寿命上限,则判定存储器失效;如读写次数未超过极限寿命上限,则测试极限寿命上限加一次测试次数的测试总次数,然后连续对存储器的存储区域进行读写操作,每次写入的固定长度的数据都不同,并记录总的操作次数、总的写入错误次数、总的读取错误次数,测试总次数测试完成后,判定读写错误次数是否超过测试总次数的60%,如超过,判定存储器失效;如未超过,判定存储器未失效;本发明为批量供货的存储器寿命的检验,电能表的数据可靠性测试和表计存储算法提供了可靠、有力的依据。
声明:
“存储器寿命测试算法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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