本发明提供了一种继承性大变形光纤测试结构及测试方法,包括外接测试设备的多根测试光纤,设置两个固结区将测试光纤直接固定在检测对象上,或者先固定在测试光线载体上,测试光线载体再固定在检测对象上;所有测试光纤在检测区域内长度不同L
i≤L
i‑1(1+δ),δ作为光纤有效测试应变量。测试方法步骤包括:将外接测试设备的测试光纤固结在测试对象上,首先通过第一根测试光纤测试变形量;当测试光纤失效时,第二根测试光纤拉直、进入测试状态;当第二根测试光纤失效时,第三根测试光纤拉直、进入测试状态……;以此类推,直到完成大变形测试。本发明结构简单,稳定性好,检测精度高,结构成本及其实施成本低,实施过程简单,有极大的应用前景。
声明:
“继承性大变形光纤测试结构及测试方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)