合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 微电子产品跌落损伤实时监测装置及方法

微电子产品跌落损伤实时监测装置及方法

816   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:10
本发明涉及X射线检测技术,具体涉及一种微电子产品跌落损伤实时监测装置及方法,该装置包括电子产品样品,包括冲击实验机和高速X射线成像系统;冲击实验机包括电磁释放器、测速装置、缓冲装置、基座、夹具、两条导轨和冲击板;X射线成像系统包括X射线发生装置、图像增强器、CCD相机、图像采集装置和数据分析装置;X射线发生装置正对电子产品样品;图像增强器与X射线发生装置处于同一直线;CCD相机依次连接图像采集装置、数据分析装置。该装置采用高速X射线技术实时监测经跌落冲击后电子产品失效点的分布,能够及时发现不合格的失效产品,也为产品零部件材料的选择,外形设计方面提供可靠的参考,从而提高产品合格率,降低生产成本。
声明:
“微电子产品跌落损伤实时监测装置及方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记