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半导体EM测试中铜钽形貌的获得方法及测试样品制备方法

587   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:10
本发明属于半导体金属导线电子迁移测试技术领域,具体涉及一种半导体EM测试中铜钽形貌的获得方法及其样品的制备方法。测试样品的制备方法包括步骤:1)预处理及减薄和减宽;2)FIB样品制备。铜钽形貌的获得方法还包括步骤:3)第一次TEM观察;4)去铜进行第二次TEM观测。通过本发明所提供的半导体EM测试样品的制备方法,可以一次制备多个TEM样品,并且不需要进行样品提取。而通过本发明所提供的半导体EM测试中铜钽形貌的获得方法,可以快速得到钽元素分布图以及铜形貌来更好地失效分析,从而解决直接用EDS或者EELS做钽面扫描不但占用机台大量的时间,而且长时间扫描内样品可能会发生一定的漂移,因而无法真实反映其形貌的技术问题。
声明:
“半导体EM测试中铜钽形貌的获得方法及测试样品制备方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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