本申请提出一种原子钟的可靠性预测方法及装置,该原子钟包括串联的铯束管、光学模块、微波模块、电路模块及电源模块,该方法包括:通过元器件应力分析可靠性预计法分别确定铯束管、光学模块、微波模块、电路模块及电源模块各自的子失效率;根据原子钟所处的环境确定铯束管、光学模块、微波模块、电路模块及电源模块各自的子失效率所对应的质量系数;根据铯束管、光学模块、微波模块、电路模块及电源模块各自的子失效率及对应的质量系数,通过元器件计数可靠性预测法计算原子钟的总失效率。本申请采用元器件计数可靠性预测法和元器件应力分析可靠性预测方法相结合的方式,以实现对串联型的磁选态‑光检测铯束原子钟的可靠性进行分析。
声明:
“原子钟的可靠性预测方法及装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)