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改进的随机存取内存自检方法

730   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:09
本发明涉及一种改进的随机存取内存自检方法,包括以下步骤:步骤S1,将待测内存划分成多个不叠加的内存段;步骤S2,每段内存采用Abraham算法进行自检;步骤S3,预先计算好待测内存中各段测试数据异或结果的CRC值;步骤S4,开始内存测试之前,将所有测试数据依次填入待测内存;步骤S5,每段内存测试之后,计算一次当前各段内存中数据异或结果的CRC值;步骤S6,在线计算的CRC值与预算计算好的CRC值做比较,若相同则认为本段内存与其他内存无耦合,继续进行下一段内存的测试,重复步骤S5,若不同则认为发现耦合,算法终止。与现有技术相比,本发明具有发现RAM分段测试后各段内存之间耦合失效的情况并提高RAM自检执行效率等优点。
声明:
“改进的随机存取内存自检方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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