本发明涉及SSD的低功耗进退可靠性检测方法、装置、计算机设备及存储介质,该方法,包括:获取高温SSD低功耗进退的寿命数据;根据寿命数据,计算得到威布尔分布形状参数和尺度参数;对威布尔分布假设进行校验;若校验通过,则获取常温SSD低功耗状态的使用强度及高温寿命试验加速因子;根据形状参数、尺度参数、使用强度及加速因子,计算得到SSD的低功耗进退可靠度,并生成检测结果。本发明能够准确评估低功耗状态在客户端现场失效概率,预估设计改善后产品可以达到的可靠度,同时对设计改善的效果也给予量化评价。
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