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光器件高密封严密性的检测方法

921   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:07
本发明提供一种光器件高密封严密性的检测方法,包括如下:1)利用轻氟油、重氟油密度不同,将光器件在轻氟油加压,在100℃重氟油下观察,如出现气泡,则产品密封性不合格,能够将漏率大于1×10‑6Pa.m3/s的不良光器件挑出;2)将漏率不大于1×10‑6Pa.m3/s的光器件放在氦气中加压,然后在氦质谱检漏仪中检测,将漏率在1×10‑6Pa.m3/s‑1×10‑10Pa.m3/s之间的产品进行区分,漏率小于4×10‑9Pa.m3/s产品合格,大于4×10‑9Pa.m3/s则产品不合格。本发明保证光器件密封性,延长光器件寿命,保证光器件性能稳定,通过两种检测方法,避免不良产品流入市场,避免由于密封不良带来的产品失效导致客户的投诉,提高客户端使用寿命,提升业界口碑。
声明:
“光器件高密封严密性的检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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