合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 检测电路、阵列基板、显示装置

检测电路、阵列基板、显示装置

1055   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:06
本实用新型提供一种检测电路、阵列基板、显示装置,用于解决现有技术中的检测电路中连接线在过孔之间的爬坡处膜质较差的问题。本实用新型提供的检测电路、阵列基板、显示装置,由于第一过孔和第二过孔距离较远,在制作连接线时,例如,沉积氧化铟锡(ITO)作为连接线时,ITO爬坡处膜质比较好,有电流通过时,不容易发生ITO烧断的现象,导致检测失效。
声明:
“检测电路、阵列基板、显示装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记