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半导体检测用四探针

1110   编辑：管理员   来源：中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:05
本实用新型公开了一种半导体检测用四探针，包括本体，所述本体的上端固定安装有绝缘板，所述绝缘板上端的中部固定安装有测试板，所述本体后端的中部固定安装有支架，所述支架的前端延伸至测试板上方，所述绝缘板上端的左端固定安装有控制台，所述控制台的上端固定安装有数示屏，所述数示屏的下端嵌入在控制台的内部，所述数示屏的上端与控制台的上端为同一平面。该半导体检测用四探针，通过安装压力传感器可在对半导体进行检测时可对测试头下探的压力进行探测，避免下探压力过大将半导体原件造成损伤，使得测试数据失效，有效的提高了测试的精度，且对半导体原件进行保护，同时使测试更加的便捷，有效的增加了测试效率。
声明：
“半导体检测用四探针” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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