本发明公开了一种通信
芯片的检测方法,包括,步骤A:读取被测通信芯片中的ID信息,分别检查被测通信芯片与供电电源的接触是否正常,通信芯片与信号发生单元的通讯是否正常;步骤B:读取供电电源的输出电流,并与理论电流进行比较;步骤C:运用信号发生单元,对通信芯片执行读写操作,以检测通信芯片的读写功能是否正常;步骤D:通过被测通信芯片按设定算法执行的结果,去判断通信芯片的内部寄存器是否失效;步骤E:通过信号发生单元对通信芯片输入功能信号,并判断通信芯片输出的功能数据是否与期望数据一致。其能通过信号发生单元输入功能信号对通信芯片进行功能测试,而能全面的检测通信芯片的性能。
声明:
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我是此专利(论文)的发明人(作者)