合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 光电薄膜器件的特性检测方法

光电薄膜器件的特性检测方法

731   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:03
本申请实施例提供一种光电薄膜器件的特性检测方法,在对待测光电薄膜器件进行制样处理,得到切片样品的基础上,配置导电探针,以及与导电探针连接的开尔文探针力显微镜。利用开尔文探针力显微镜通过导电探针采集切片样品的参数分布数据信息。利用该特性检测方法,可得到数值化的参数分布数据信息,实现更为细微化的检测,提高检测的全面性,为后续待测光电薄膜器件的失效判断提供数据依据。
声明:
“光电薄膜器件的特性检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记