合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 蚀刻缺陷检测方法

蚀刻缺陷检测方法

825   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:03
本公开提供一种蚀刻缺陷检测方法,涉及半导体技术领域。该检测方法包括:提供衬底,衬底上依次形成有导电层以及介质层;对介质层进行蚀刻处理,以形成沟槽结构;以导电层作为阴极,采用电镀工艺在沟槽结构内填充电镀层,以形成待测产品;采用缺陷密度检测组件测试待测产品,以获取沟槽结构的顶视图像,根据顶视图像确定待测产品的蚀刻缺陷。本公开的蚀刻缺陷检测方法可提高缺陷识别准确率,防止电容因悬空而失效。
声明:
“蚀刻缺陷检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第一届矿产品采样与制样技术研讨会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记