本发明提供了一种内存检测方法及装置,其中,方法包括:S0:确定待测内存中对应同一个失效数据位的待测内存颗粒的数量,以及确定每一个待测内存颗粒的位置参数;并根据待测内存颗粒的数量确定至少一个检测参数;S1:根据每一个检测参数的大小,选择一个未被选择过的一个检测参数;S2:根据选择的检测参数,修改待测内存的有效访问区域;S3:根据修改后的有效访问区域,访问待测内存,并形成访问结果;S4:判断访问结果是否为预设访问结果,如果是,则执行步骤S1;否则,执行步骤S5;S5:根据选择的检测参数,以及每一个待测内存颗粒的位置参数,确定故障内存颗粒。通过本发明的技术方案,可更为准确的检测出内存的故障内存颗粒。
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