本发明提供了一种IGBT驱动单板智能检测系统,涉及电路测试的技术领域,是一种包括了背板、控制模块、采样板、适配板的全新老化系统架构,所述IGBT驱动单板智能检测系统根据控制指令控制采样板在老化IGBT驱动单板过程中穿插进行功能测试,再根据在老化过程中得到的功能参数对IGBT驱动单板的批次性差异以及高温失效性进行判断,从而降低了IGBT驱动单板后期使用的失效率。
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