本公开实施例提供一种存储单元的检测方法及设备,该方法包括:向存储单元中写入第一数据;对存储单元进行第一读取,以调整存储电容的第一极板的第一电压;对存储单元进行第二读取,以获取调整后的第一电压对应的第二数据;根据第二数据和第一数据是否一致,确定存储单元的存储电容是否失效。本公开在进行第二读取之前,先进行第一读取,第一读取的目的并不是读取数据,而是为了通过第一读取降低位线回存给第一极板的电压,从而使后续进行第二读取时读取错误率较高,进而可以检测出来更多失效的存储电容。这样,就可以将漏电更小的离群存储电容检测出来。
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