本发明涉及一种基于光电联合检测技术的电磁继电器寿命评估方法,包括搭建继电器控制电路获取被测继电器理论动作次数和提供继电器动作激励信号,搭建触点检测电路获取继电器有效闭合次数,搭建振动检测光路,使用光纤光栅应变传感器监测继电器动作时的微小振动变化判断继电器实际动作次数,综合各参数对继电器完成寿命评估及寿命影响因素推测。本发明解决了单一接触电阻参数判断继电器失效的方法中存在的弊端,通过振动检测系统和触点检测电路对继电器的动作情况和触点的有效闭合情况进行同时监测,在准确评估继电器寿命的同时,可判断影响继电器寿命的失效因素。
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