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芯片内部动作时间的检测系统及方法

835   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:01
本发明提供了一种芯片内部动作时间的检测系统及方法,芯片具有状态输出管,该检测系统包括:检测设备、外部时钟、计算单元和定义单元;检测设备具有失效地址存储单元,用于对虚拟地址进行计数;其中,芯片的状态输出管与失效地址存储单元的控制端相连;外部时钟与失效地址存储单元的输入端相连;计算单元,估算要测量的动作时间,据此定义时钟信号的周期;定义单元,在失效地址存储单元中为每个时钟信号定义不同的虚拟地址;检测设备,检测时,将虚拟地址存储于失效地址存储单元中;然后计算单元还统计存储于失效地址存储单元中的虚拟地址数目;此外,计算单元根据时钟信号的周期和虚拟地址数目,从而准确地计算出芯片内部动作时间。
声明:
“芯片内部动作时间的检测系统及方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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