合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> GaN基半导体激光芯片检测装置与方法

GaN基半导体激光芯片检测装置与方法

716   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:01
本发明实施例提供了一种GaN基半导体激光芯片检测装置及方法,所述装置包括:芯片装载模块、电源模块、显微成像模块和激光打标模块;通过电源模块为待检测芯片施加一定的电流使待检测芯片从p面和前腔面分别发出两束荧光,显微成像模块接收这两束荧光后对待检测芯片的p面和前腔面进行荧光成像,并判断待检测芯片的有源区是否存在失效区域、前腔面是否有灾变性光学损伤点,最后再通过激光打标模块对待检测芯片的有源区的失效区域正上方的p面进行打标以便后续处理。所述装置结构简单,且能够实现对待检测芯片的有源区的失效区域的正上方的p面区域打标,以此来定位失效区域在有源区中的位置,功能更加丰富,具有更好的实用价值。
声明:
“GaN基半导体激光芯片检测装置与方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

2024退役新能源器件循环利用技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记