合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 基于预载程序动态信号检验的STM32总剂量效应测试方法

基于预载程序动态信号检验的STM32总剂量效应测试方法

947   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:01
本发明涉及一种基于预载程序动态信号检验的STM32总剂量效应测试方法,所述测试方法基于测试系统进行,所述测试系统包括载有STM32芯片的最小电路,用于信号传输的通讯模块和用于接收信号的上位机;预载程序包含信号处理校验、存储校验和通信校验功能;测试方法包括如下步骤:布置测试系统、辐照前参数校验、辐照及在线功能监测、辐照结束、辐照后参数校验、损伤分析。本发明提供的测试方法一方面通过构建最小系统得出芯片在实际运行工况下的辐照损伤剂量,另一方面通过预载程序的多种动态信号检验功能对芯片内部各个器件的工作状态进行监控,得出STM32芯片具体的辐照失效模式和内部各器件的耐辐照能力高低。
声明:
“基于预载程序动态信号检验的STM32总剂量效应测试方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记