本发明提供了一种衬底位错的检测方法,包括以下步骤:A、利用电学失效分析定位的方法对可能存在位错的器件进行失效定位;B、利用聚焦离子束,从其正面进行切抛,边切边看,定位到失效的存储单元,对其源漏区衬底进行排查,发现位错缺陷,立即停止切抛;C、在正面抛光结束后,进行背面的抛光,在确认背面已被低速流离子束抛光干净后停止切抛,制得透射电镜样品;D、在透射电镜中进行观察,拍下透射电镜照片,获取位错长度、深度、所在位置等有关位错信息。本发明带来的有益效果是:通过增加透射电镜样品制备的厚度,保留了完整的位错信息;本发明方法得到精确的密度、长度、深度等位错信息;步骤少,速度快,效率非常高。
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