本发明公开一种触摸屏成像的检测方法;解决的问题针对现有电容式触摸屏的功能片主要是依靠对ITO镀层进行图案设计从而实现触控功能,该ITO镀层在加工制作或者客户使用不当过程中容易造成损坏,在以往的失效分析过程中,在不破坏产品的情况下,分析止步于位置判定,不能对图形原像进行清晰呈现,降低分析效率和数据统计水平的技术问题。采取方案检测方法包括步骤1、将触摸屏置于贴合台面上;2、在盖板上全覆盖抗环境光干扰材料层;3、取出触摸屏;4、将触摸屏置于显微镜台面上;5、环境光进入触摸屏;6、成像。优点加强对触摸电容屏ITO层的原像对比,减少对显微镜仪器技术发展的依赖,降低检测成本,满足电容屏行业技术发展需求。
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