本发明公开了一种基于多层感知器神经网络的电路良率分析方法,包括步骤:一、均匀分布采样:针对电路器件的各项工艺变化参数,采用均匀分布采样的方法得到总量样本;二、蒙特卡罗仿真:采用蒙特卡洛仿真方法对总量样本进行电路仿真,获得电路失效样本;三、重要性采样:统计电路失效样本各参数的均值,并将其作为电路失效区域的中心点,以该点为原点在电路失效区域进行高斯分布采样得到重要样本;四、多层感知器神经网络筛选:将重要样本输入预先训练好的多层感知器神经网络进行筛选,得到电路失效的采样点;五、电路良率计算:采用重要性采样公式计算出电路良率。本发明能够提供快速且准确的良率验证分析,在缩短项目周期的同时提升产品可靠性。
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