本发明公开了一种结构可靠性分析方法、装置、电子设备以及存储介质,方法包括:确定待分析领域的产品结构、功能函数和随机变量特征参数,计算目标函数的梯度值,选取负梯度方向作为下降方向,确定随迭代次数呈指数衰减的迭代步长后开始迭代,得到终点;当功能函数值满足第一预设条件时,将终点作为可靠性分析方法的起点;取一种不涉及梯度计算的非负价值函数作为目标函数,确定搜索方向与迭代步长;根据起点、搜索方向与迭代步长,进行迭代处理,输出满足第二预设条件的最大可能失效点与可靠指标;求解原始空间下的最大可能失效点,在可靠指标基础上计算结构失效概率。本发明提高了效率、有效性和通用性,可广泛应用于可靠性分析技术领域。
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